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產(chǎn)品型號(hào):
所屬分類:超聲波測(cè)厚儀
產(chǎn)品時(shí)間:2024-09-10
簡(jiǎn)要描述:日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S實(shí)現(xiàn)高測(cè)量重復(fù)性(± 0.01 μm 或更小,取決于對(duì)象和測(cè)量條件)不易受溫度變化的影響可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過(guò)程中使用的在線式。反射型允許從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測(cè)量僅可測(cè)量透明涂膜層(取決于測(cè)量條件)
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S
實(shí)現(xiàn)高測(cè)量重復(fù)性(± 0.01 μm 或更小,取決于對(duì)象和測(cè)量條件)
不易受溫度變化的影響
可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過(guò)程中使用的在線式。
反射型允許從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測(cè)量
僅可測(cè)量透明涂膜層(取決于測(cè)量條件)
模型 | 飛行時(shí)間 |
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測(cè)量方法 | 非接觸式/光譜干涉式 |
測(cè)量對(duì)象 | 電子和光學(xué)用透明平滑膜、多層膜 |
測(cè)量原理 | 光譜干擾型 |
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S
測(cè)量厚度 | 1~50μm(薄材料)、10~150μm(厚材料) |
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測(cè)量長(zhǎng)度 | 50-5000 毫米 |
測(cè)量間距 | 1 毫米 ~ |
最小顯示值 | 0.001微米 |
電源電壓 | AC100 V 50/60 Hz |
工作溫度限制 | 5~45℃(測(cè)量時(shí)溫度變化1℃以內(nèi)) |
濕度 | 35-80%(無(wú)冷凝) |
測(cè)量區(qū)域 | φ0.6 毫米 |
測(cè)量間隙 | 約 30 毫米 |