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產(chǎn)品型號: F60
所屬分類:測厚儀
產(chǎn)品時間:2024-09-10
簡要描述:日本filmetrics對準自動膜厚測量系統(tǒng)F60F60自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是F50的高duan機型,具有缺口檢測、自動基線功能和互鎖機制。只需將樣品放在載物臺上,然后單擊測量按鈕即可自動執(zhí)行對齊、基線和膜厚映射。
日本filmetrics對準自動膜厚測量系統(tǒng)F60
F60自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是F50的高duan機型,具有缺口檢測、自動基線功能和互鎖機制。
只需將樣品放在載物臺上,然后單擊測量按鈕即可自動執(zhí)行對齊、基線和膜厚映射。
半導體 | 抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅等 |
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日本filmetrics對準自動膜厚測量系統(tǒng)F60
模型 | F60-t | F60-t-UV | F60-t-近紅外 | F60-t-EXR |
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測量波長范圍 | 380 – 1050nm | 190 – 1100nm | 950 – 1700nm | 380 – 1700nm |
膜厚測量范圍 | 20nm – 70μm | 5nm – 40μm | 100nm – 250μm | 20nm – 250μm |
準確性 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | ± 0.2% 薄膜厚度 | |
2納米 | 1納米 | 3納米 | 2納米 |
可以測量硅晶片上的氧化膜、抗蝕劑等。只需設置樣本,對齊、參考等將*自動完成。