液晶面板表面缺陷及檢測(cè)方法與檢測(cè)設(shè)備分析

在工業(yè)生產(chǎn)中，產(chǎn)品表面經(jīng)常遇到的不良品類(lèi)型，大多是裂痕、劃痕、臟污等。而這些不良的缺陷檢測(cè)，隨著機(jī)器視覺(jué)行業(yè)的發(fā)展，技術(shù)的提高，已經(jīng)有很大的突破，不再是檢測(cè)的難點(diǎn)。

目前在3C電子領(lǐng)域，例如金屬面、玻璃面、手屏面板、液晶面板等行業(yè)表面檢測(cè)上應(yīng)用廣泛。但是，由于這些缺陷形狀不規(guī)則、深淺對(duì)比度低，而且往往會(huì)被產(chǎn)品表面的自然紋理或圖案所干擾。

表面劃痕通?？煞譃槿箢?lèi)：

第一類(lèi)劃痕

從外觀(guān)上較易辨認(rèn)，灰度變化跟周?chē)鷧^(qū)域?qū)Ρ纫脖容^明顯?？梢赃x擇較小的閾值精缺陷部分直接標(biāo)記。

第二類(lèi)劃痕

部分灰度值變化并不明顯，整幅圖像灰度比較平均，劃痕面積也比較小，只有幾個(gè)像素點(diǎn)，灰度也只比周?chē)鷪D像稍低，很難分辨。可以對(duì)原圖像進(jìn)行均值濾波，得到較平滑的圖像，并與原圖像相減，當(dāng)其差的絕對(duì)值大于閾值時(shí)就將其置為目標(biāo)，并對(duì)所有的目標(biāo)進(jìn)行標(biāo)記，計(jì)算其面積，將面積過(guò)小的目標(biāo)去掉，剩下的就標(biāo)記為劃痕。

第三類(lèi)劃痕

各部分灰度差異較大，形狀通常呈長(zhǎng)條形，如果在一幅圖像上采取固定閾值分割，則標(biāo)記的缺陷部分會(huì)小于實(shí)際部分。

由于在工業(yè)檢測(cè)中圖像的多樣性，對(duì)于每一種圖像，都要經(jīng)過(guò)分析綜合考慮各種手段來(lái)進(jìn)行處理達(dá)到效果。

一般來(lái)說(shuō)，劃痕部分的灰度值和周?chē)２糠窒啾纫?，也就是劃痕部分灰度值偏小；而且，大多都是在光滑表面，所以整幅圖的灰度變化總體來(lái)說(shuō)非常均勻，缺乏紋理特征。

因此，劃痕的檢測(cè)一般使用基于統(tǒng)計(jì)的灰度特征或者閾值分割的方法將劃痕部分標(biāo)出。

行業(yè)應(yīng)用：

玻璃，金屬，液晶板、手機(jī)屏幕、塑料等等表面檢測(cè)。

半導(dǎo)體材料品質(zhì)檢測(cè)設(shè)備之目視檢查燈YP-150I介紹

是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中費(fèi)人工的成形製品表面
的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。

概要

　　1.　可照明様品表面範(fàn)囲於400.000Lx以上。
　　2.　因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
　　3.　冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
　　4.　二段切換構(gòu)造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。

日本sena lamp高照度鹵素強(qiáng)光燈185FI手機(jī)屏幕檢查燈

高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。

標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成如下。

照度：照射距離　310mm、照射直徑徑　55mmφ時(shí)照度在　400，000　Lux以上）

光源：直流點(diǎn)燈　17V/185W　鹵素?zé)?/span>

照度調(diào)整：連續(xù)可調(diào)至照度的　20%

冷卻方式：強(qiáng)制空冷

使用溫度范囲：0～40℃

電源電圧：AC　95V～AC　260V，50/60Hz

功率：250W

尺寸：光源　136mm　H×112mm　W×150mm　D

電源　229mm　H×90mm　W×250mm　D

重量：光源2.3kg

電源3.6kg

立桿5.0kg